Optimerad för högeffektiva solapplikationer, den n-typ M6-monokristallina kiselskivan har en pseudokvadrat 166 × 166 mm design med överlägsna materialegenskaper. Tillverkad med CZ -metod med fosfordoping levererar den utmärkt kristallkvalitet med<100>Orientering och låg defektdensitet (mindre än eller lika med 500 cm⁻²). Skivan erbjuder konduktivitet i N-typ med 1,0-7,0 Ω · cm resistivitet och större än eller lika med 1000 μs bärarens livslängd, vilket gör den idealisk för topcon och heterojunction cellteknologier. Dess exakta geometri (φ223 mm diameter, mindre än eller lika med 27 um TTV) och strikta ytkvalitetsstandarder säkerställer optimal prestanda i fotovoltaiska moduler. M6 -storleken ger den perfekta balansen mellan celleffektivitet och tillverkningsproduktivitet för moderna solproduktionslinjer.
1. Materialegenskaper
|
Egendom |
Specifikation |
Inspektionsmetod |
|
Tillväxtmetod |
Cz |
|
|
Kristallinitet |
Monokristallin |
Förmåns etsningstekniker(ASTM F47-88) |
|
Konduktivitet |
N-typ |
Napson EC-80TPN |
|
Dopande |
Fosfor |
- |
|
Syrekoncentration [OI] |
Mindre än eller lika med8e +17 at/cm3 |
FTIR (ASTM F121-83) |
|
Kolkoncentration [CS] |
Mindre än eller lika med5e +16 at/cm3 |
FTIR (ASTM F123-91) |
|
Etsgropdensitet (dislokationstäthet) |
Mindre än eller lika med500 cm-2 |
Förmåns etsningstekniker(ASTM F47-88) |
|
Ytorientering |
<100>± 3 grader |
Röntgendiffraktionsmetod (ASTM F26-1987) |
|
Orientering av pseudo -fyrkantiga sidor |
<010>,<001>± 3 grader |
Röntgendiffraktionsmetod (ASTM F26-1987) |
2. Elektriska egenskaper
|
Egendom |
Specifikation |
Inspektionsmetod |
|
Resistivitet |
1.0-7.0 Ω.cm
|
Skivinspektionssystem |
|
Mclt (minoritetsbärare livstid) |
Större än eller lika med 1000 μs
|
Sinton BCT-400 Övergående
(med injektionsnivå: 5e14 cm-3)
|
3.Geometri
|
Egendom |
Specifikation |
Inspektionsmetod |
|
Geometri |
pseudo |
|
|
Avfasningsform
|
runda | |
|
Wafer sidlängd |
166 ± 0,25 mm
|
skivinspektionssystem |
|
Skivdiameter |
φ223 ± 0,25 mm |
skivinspektionssystem |
|
Vinkel mellan angränsande sidor |
90 grader ± 0,2 grad |
skivinspektionssystem |
|
Tjocklek |
180﹢ 20/﹣10 µm
175﹢ 20/﹣10 µm
170﹢ 20/﹣10 µm
160﹢ 20/﹣10 µm
150﹢ 20/﹣10 µm
|
skivinspektionssystem |
|
TTV (total tjockleksvariation) |
Mindre än eller lika med 27 µm |
skivinspektionssystem |
4.Ytegenskaper
|
Egendom |
Specifikation |
Inspektionsmetod |
|
Skärmetod |
Dj |
-- |
|
Ytkvalitet |
När det är klippt och rengjort, är ingen synlig förorening, (olja eller fett, fingeravtryck, tvålfläckar, uppslamningsfläckar, epoxi/limfläckar inte tillåtna) |
skivinspektionssystem |
|
Sågmärken / steg |
Mindre än eller lika med 15 um |
skivinspektionssystem |
|
Rosett |
Mindre än eller lika med 40 um |
skivinspektionssystem |
|
Varp |
Mindre än eller lika med 40 um |
skivinspektionssystem |
|
Chips |
djup mindre än eller lika med 0,3 mm och längd mindre än eller lika med 0,5 mm max 2/st; Inget V-chip |
Nakna ögon eller skivinspektionssystem |
|
Mikrosprickor / hål |
Inte tillåtet |
skivinspektionssystem |
Populära Taggar: N-typ M6 Monokristallin kiselskiva specifikation, Kina, leverantörer, tillverkare, fabrik, tillverkad i Kina
