Inom solcellsindustrin kommer övergången från wafer-teknik till ett skifte från pseudo-torget156,75x156,75mm M2 till större skivstorlekar på full kvadrat 158,75x158,75mm och detta inkluderar p-typ och n-typ mono-Si-skivor.
De modernaste Full Square Mono Wafers har maximerat ljusexponeringen till samma nivå av multi-wafer genom att utöka kvadratmåttet. Våfflorna är alltid helt fyrkantiga så att de passar PV-modulen på ett optimalt sätt.
1 Materialegenskaper
Fast egendom | Specifikation | Inspektionsmetod |
Tillväxtmetod | CZ | |
Kristallinitet | Monokristallin | Föredragna etsningstekniker（ASTM F47-88） |
Konduktivitetstyp | N-typ | Napson EC-80TPN |
Dopant | Fosfor | - |
Syrekoncentration [Oi] | ≦8E+17 vid / cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Kolkoncentration [Cs] | ≦5E+16 vid / cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Etsgropdensitet (dislokationstäthet) | ≦500 cm-3 | Föredragna etsningstekniker（ASTM F47-88） |
Ytorientering | & lt; 100> ± 3 ° | Röntgendiffraktionsmetod (ASTM F26-1987) |
Orientering av pseudo fyrkantiga sidor | & lt; 010>,< 001=""> ± 3 ° | Röntgendiffraktionsmetod (ASTM F26-1987) |
2 Elektriska egenskaper
Fast egendom | Specifikation | Inspektionsmetod |
Motstånd | 0,3-2,1 Ω.cm 1,0-7,0 Ω.cm | System för inspektion av skivor |
MCLT (livslängd för minoritetsföretag) | ≧ 1000 μs (resistivitet0,3-2,1 Ω.cm) | Sinton övergående |
3 Geometri
Fast egendom | Specifikation | Inspektionsmetod |
Geometri | Fullt kvadrat | |
Wafer Sidolängd | 158,75 ± 0,25 mm | waferinspektionssystem |
Wafer Diameter | φ223 ± 0,25 mm | waferinspektionssystem |
Vinkel mellan intilliggande sidor | 90° ± 0.2° | waferinspektionssystem |
Tjocklek | 180 ﹢ 20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | waferinspektionssystem |
TTV (Total tjockleksvariation) | ≤ 27 µm | waferinspektionssystem |
4 Ytegenskaper
Fast egendom | Specifikation | Inspektionsmetod |
Skärmetod | DW | -- |
Ytkvalitet | som klippt och rengjort, ingen synlig förorening, (olja eller fett, fingeravtryck, tvålfläckar, slamfläckar, epoxi- / limfläckar är inte tillåtna) | waferinspektionssystem |
Sågmärken / steg | ≤ 15µm | waferinspektionssystem |
Rosett | ≤ 40 µm | waferinspektionssystem |
Varp | ≤ 40 µm | waferinspektionssystem |
Chip | djup ≤0,3 mm och längd ≤ 0,5 mm Max 2 / st; inget V-chip | Nakna ögon eller waferinspektionssystem |
Micro sprickor / hål | Inte tillåtet | waferinspektionssystem |
Populära Taggar: n typ full fyrkantig monokristallin solskiva, Kina, leverantörer, tillverkare, fabrik, tillverkad i Kina
